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北京三禾泰达技术有限公司成立于2003年1月21日，注册于高技术产业云集的北京亦庄经济技术开发区。

截止于2024年12月底共获得3项发明专利、21项实用新型专利和16项产品软件著作权2023年11月复审获批国家高新技术企业

2023年10月获批北京市专精特新中小企业

2024年2月复审获批北京市中关村高新技术企业

公司拥有ISO9001质量管理体系认证和欧洲安全生产CE认证证书

公司目前拥有3个系列共11种不同半导体晶圆测试仪器设备

◇ LINT-208GA型Wafer平坦度／厚度自动测试仪，该设备填补了国内空白，2023年12月该设备获得北京市发改委颁发的全国首台套证书。

◇ LINT-208GH型Wafer半自动平坦度测试仪

◇ LST-200H型共焦平整度测试仪

◇ LST-300A型共焦平整度测试仪

◇ LST-300S型半自动平整度测试仪

◇ MSP-300A型Glass Wafer平整度测试仪

◇ WS-300AD型晶圆平整度测试仪

◇ RPW-0812A型晶圆性能测试系统

◇ SORTER-200A型非接触自动分选机

◇ TRAN-200A型自动导片机

◇ ALC-SI型硅在线自动研磨厚度控制仪（美国对中国禁运产品）

公司愿景：成为世界半导体行业专业检测仪器、服务及技术方案提供商

公司使命：通过向世界半导体行业提供高技术高精度的检测仪器、定制化检测仪器和优质服务为中国为世界为社会做贡献